4.18.1 目的 
    检验探测器对带静电人员、物体造成的静电放电的适应性。 
4.18.2 方法 
4.18.2.1 将试样按GB/T 17626.2中7.1.1规定进行试验布置，按4.1.2规定使试样处于正常监视状态。 
4.18.2.2 按GB/T 17626.2中第8章规定的试验方法对试样及耦合板施加表7所示条件下的扰试验，期间观察并记录试样状态。   4.18.2.3 上述试验完成后，按4.1.5规定，分别以3℃/min和20℃/min的升温速率升温至试样动作。记录试样在各升温速率下的响应时间。 
4.18.3 要求  
    a) 干扰环境期间，试样不应发出火灾报警或故障信号；  
    b) 可复位探测器试样对3℃/min升温速率的响应时间不应小于7min 13s ，且与环境试验前响应时间相比变化不应超过2min 40s；对20℃/min升温速率的响应时间A1类探测器不应小于30s，除A1类外其他类探测器不应小于1min 0s，且与环境试验前响应时间相比变化不应超过30s； 
    c) 不可复位探测器试样的响应时间应符合表4 规定。 
4.18.4 试验设备
    试验设备应满足GB/T 17626.2的相关规定。